目前，在SMT電子組裝領(lǐng)域中使用的檢測技術(shù)種類(lèi)繁多，常用的有人工目檢、在線(xiàn)測試自動(dòng)光學(xué)檢測、自動(dòng)X射線(xiàn)檢測和功能測試等。這些檢測方式都有各自的優(yōu)點(diǎn)和不足之處。

（1）人工目檢是一種用肉眼檢測的方法。其檢測范有限，具能檢測元器件漏裝、方極性、型號正誤、橋連及部分虛焊，山于人工目檢易受人的主觀(guān)因素影響，因此具有很高的不穩定性，在處理0603、0402和細間距芯片時(shí)人工目檢更加圖難，特別是當BGA元器件大量采用時(shí)，對其焊接質(zhì)量的檢查，人工目檢兒乎無(wú)能為力。

（2）飛針測試是一種機器檢査方式，它是以?xún)筛结槍υ骷与姷姆椒▉?lái)實(shí)現檢測的能夠檢測元器件失效、性能不良等缺陷。這種測試方式對插裝PCB和采用0805以上尺寸元器件貼裝的密度不高的PCB比較近用，但是，元器件的小型化和產(chǎn)品的高密度化使這種檢測方式的不足表現明顯。對于0402級的元器件，由于焊點(diǎn)的面積較小，探針已無(wú)法準確連接，特別是高密度的消費類(lèi)電子產(chǎn)品，探針會(huì )無(wú)法接觸到焊點(diǎn)。此外，其対采用并聯(lián)電容、電阻等電連接方式的PCB也不能準確測量。所以，隨著(zhù)產(chǎn)品的高密度化和元器件的小型化，飛針測試在實(shí)際檢測工作中的使用量也越來(lái)越少。

（3）ICT針床測試是一種廣泛使用的測試技術(shù)。其優(yōu)點(diǎn)是測試速度快，適合單一品種大批量的產(chǎn)品。但是，隨著(zhù)產(chǎn)品品種的豐富和組裝密度的提高及新產(chǎn)品開(kāi)發(fā)周期的縮短，其局限性也越發(fā)明顯。其缺點(diǎn)主要表現是：須要專(zhuān)門(mén)設計測試點(diǎn)和測試模具，制作周期長(cháng)，價(jià)格貴，編程時(shí)間長(cháng)；元器件小型化帶來(lái)的測試困難和測試不準確性；PCB進(jìn)行設計更改后，原測試模具將無(wú)法使用。

（4）自動(dòng)光學(xué)檢測AO是近幾年興起的一種檢測方法。它通過(guò)CCD照相的方式獲得元器件或PCB的圖像，然后經(jīng)過(guò)計算機的處理和分析比較來(lái)判斷缺陷和故障。其優(yōu)點(diǎn)是：檢測速度快，編程時(shí)間較短，可以放到生產(chǎn)線(xiàn)中的不同位置，便于及時(shí)發(fā)現故障和缺陷，使生產(chǎn)檢測合二為一。因此，它是目前采用得比較多的一種檢測手段。但AOl系統也存在不足，如不能檢測電路錯誤，對不可見(jiàn)焊點(diǎn)的檢測也無(wú)能為力。

（5）功能測試。ICT能夠有效地查找在SMT組裝過(guò)程中發(fā)生的各種缺陷和故障，但是它不能夠評估整個(gè)PCB電路板所組成的系統在時(shí)鐘速度上的性能。而功能測試則可以測試整個(gè)系統是否能夠實(shí)現設計目標，它將電路板上的被測單元作為一個(gè)功能體，對其提供輸入信號，按照功體的設計要求檢測輸出信號。這種測試是為了確保電路板能按照設計要求正常工作。功能測試最簡(jiǎn)單的方法是：將組裝好的某電子設備上的專(zhuān)用電路板連接到該設備是適當電路上，然后加電壓，如果設備正常工作，就標明電路板合格。這種方法簡(jiǎn)單、投資少，但不能自動(dòng)診斷故障。

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