1) Smt加工廠(chǎng)的可靠性

Smt加工廠(chǎng)可靠性是指產(chǎn)品（這里指焊點(diǎn)）在給定的條件下和規定的時(shí)間內完成規定功能的能力。它是相對于一定載荷條件的概率，所以可靠性一定是指在某種載荷條件下的可靠性。

不同的電子產(chǎn)品其載荷條件會(huì )有所不同，比如汽車(chē)電子系統，它受到的是一種環(huán)境冷熱周期性的載荷和振動(dòng)載荷。熱循環(huán)試驗就是模仿這種熱機械載荷來(lái)分析焊點(diǎn)的失效原因。

載荷條件是指任何加在系統上，使系統的性能惡化或影響可靠性的條件。載荷是一個(gè)廣義的載荷，如熱沖擊、熱循環(huán)，溫度、濕度、電壓、電流、機械振動(dòng)等。

2）smt加工廠(chǎng)的失效

 失效，喪失功能或降低到不能滿(mǎn)足規定要求的現象。

3）失效模式。

  Smt加工廠(chǎng)的失效模式，失效現象的表現形式，與生產(chǎn)的原因無(wú)關(guān)，如開(kāi)路、短路、參數飄移、不穩定等。

4）失效機理

  Smt加工廠(chǎng)的失效機理，也就是因物理的、化學(xué)的、機械的等許多起因而讓產(chǎn)品產(chǎn)生失效過(guò)程，如蠕變-應力釋放斷裂、拉伸斷裂、裂紋擴展斷裂、電遷移短路，工程上有時(shí)也會(huì )把原因說(shuō)成是失效機理。

  之所以區別失效模式和失效機理,是由于偶然相同的失效模式不一定是由同樣的失效機理造成的，相反，相同的失效機理，在產(chǎn)生失效的形態(tài)上卻存在著(zhù)不同的失效模式。例如，代表半導體電路故障的“電遷移”，就其發(fā)生的形態(tài)，會(huì )形成短路、開(kāi)路、特質(zhì)惡化等許多失效模式。

5）加速試驗

  Smt加工廠(chǎng)的加速試驗，是一種快速試驗方法。它是通過(guò)采用比設備（這里指焊點(diǎn)）在正常使用中所經(jīng)受的環(huán)境更為嚴酷的試驗環(huán)境來(lái)實(shí)驗這一點(diǎn)的。由于使用了更高的應力，在進(jìn)行加速試驗時(shí)必須注意不能引入在正常使用中不會(huì )發(fā)生失效模式。

（1）加速壽命試驗——估計壽命。

（2）加速應力試驗——確定（或證實(shí)）和糾正薄弱環(huán)節。

     常用的加速試驗有：

（1）周期固定的周期性應力試驗（如熱循環(huán)試驗、熱沖擊試驗）。

（2）進(jìn)行應力譜試驗。

（3）漸進(jìn)應力譜試驗。

（4）高加速壽命試驗（HALT）（設備級）。

（5）高加速應力篩選（HASS）（設備級）。

（6）高加速溫度和濕度應力試驗（HAST）（零件級）。

  注意，在高可靠電子產(chǎn)品生產(chǎn)中用到環(huán)境應力篩選（ESS）試驗，不是加速試驗，它是一種消除缺陷焊點(diǎn)的篩選方法。